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OTSUKA 大塚电子 ELSZ-2000ZS 流通池污染,定期维保减少停机

更新时间:2026-07-22      浏览次数:20

一、流通池污染带来的典型故障

流通池内壁、光学窗口、电极附着样品沉淀物、有机物、盐垢,会直接出现:Zeta 电位重复性变差、基线持续漂移、噪声变大、数据跳变;严重时电极信号异常、必须停机拆洗。批量样品连续测试场景下,污染会持续累积,逐步扩大故障概率。

二、每次测试结束标准冲洗流程(每日必执行,核心预防手段)

  1. 待测样品测试完毕,立即通入超纯水连续冲洗流通池 3 分钟,带出大部分悬浮颗粒与可溶性溶质。

  2. 含有机物、高分子、乳液样品:纯水冲洗之后,使用少量乙醇水溶液低速循环 2 分钟,清除有机吸附层。

  3. 含盐样品禁止直接风干,盐类结晶会牢牢附着窗口与电极;冲洗完成后池内留存纯水保湿,不要排空干放。

  4. 冲洗完成目视确认流出液体无浑浊、无悬浮微粒,再开展下一组样品。

三、样品进样前置管控,从源头减少污染

  1. 所有待测溶液提前离心,上层清液上机;大颗粒、絮凝物禁止直接进流通池,防止沉降附着内壁。

  2. 高浓度浆料、容易沉降样品,不要长时间停留在流通池内,测试完成立刻启动冲洗。

  3. 酸碱度样品测试后加长冲洗时长,避免腐蚀电极同时减少附着物吸附。

  4. 不同基质样品穿插测试时,中间增加纯水冲洗步骤,防止样品互相反应产生絮状沉淀。

四、分级定期维保标准

每日点检

观察基线噪声、测量重复性;发现同一样品连续两次数据偏差变大,优先判定轻微污染,立刻加长循环冲洗。检查进样管路有无析出结晶。

每周基础养护

完整执行循环冲洗;目视观察流通池透光窗口,出现雾状印记提前处理;检查进出管路密封圈,渗漏会带入空气加重吸附。

月度轻度拆洗(批量检测工况)

断电降温后拆卸流通池组件。使用超纯水轻柔冲洗池体、光学窗口、电极。
无机盐垢:稀柠檬酸水溶液短时间浸泡;有机附着物:低浓度乙醇浸泡。
仅用无尘棉签轻触表面,严禁硬质毛刷刮擦光学窗口与电极敏感区域。清洗后大量纯水置换残留清洗剂。装配前确认管路无气泡,装好后纯水循环 5 分钟再投入测试。

季度深度维保

完整拆解流通池,检查窗口是否出现性吸附膜;同步清洗外部连接管路;确认电极表面无结垢;清洗完成后使用标准参比溶液验证重复性,合格再投入使用。

五、批量连续测试防污染重点规则

  1. 长时间不间断测试,每 20~30 组样品插入纯水空白冲洗循环,减缓污染物累积。

  2. 高污染样品集中安排在同一时段测试,不要高低污染样品无序穿插。

  3. 测试间隙不允许样品长期静置在流通池内部,闲置自动切换纯水保湿模式。

  4. 环境湿度稳定,避免流通池内外温差大造成水汽凝结,加重污染物附着。

六、气泡叠加污染的处理办法

流通池内气泡容易吸附颗粒物,形成顽固污渍。进样溶液提前静置脱气;冲洗时控制流速平稳,不要流速剧烈变化带入空气。一旦池内滞留气泡,持续低速纯水循环排出气泡,气泡长期附着窗口会形成难以清理印记。

七、严禁操作事项

  1. 样品测试结束直接关机,省略冲洗步骤,残留物风干结晶。

  2. 使用强酸强碱长时间浸泡流通池,腐蚀光学镀膜与电极。

  3. 金属硬物、普通纸巾擦拭窗口和电极,造成性划痕。

  4. 清洗溶剂残留未充分置换,直接开展样品测量,引入额外干扰。

  5. 污染累积严重后继续强行测试,加重清洗难度,延长停机维修时长。

八、快速异常判定(预判停机风险)

  1. 基线噪声持续上升:流通池轻度污染,立刻执行加长循环冲洗。

  2. 测量重复性逐步变差:内壁存在缓慢吸附层,安排月度拆洗。

  3. 基线单向持续漂移:窗口形成有机膜,必须停机深度清洗。

  4. 信号突发性跳变:存在大颗粒沉降或者大气泡附着窗口。

九、长期停机保存要求

长时间不用设备,充分冲洗流通池,内部充满纯水密封保存;禁止空池干燥存放,防止残留微量溶质结晶附着。再次启用前充分置换、基线验证合格再测样品。


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