特征台式快速水份测定仪使用近红外光的反射光在应用光照后几秒钟内显示结果样品容器高度灵活，可在塑料袋上进行测量通过作主机上的按键创建校准曲线规格测量方法近红外反射，在底平面投射/接收的光光谱学滤波器测量点直径：约25毫米校准曲线数量50测量速度正常测量：7秒（根据设置）连续测量：0.5秒间隔显示有机EL输入/输出USB（用于PCI/O）、RS-232C（用于打印机输出）光源钨丝灯工作湿度范围5至35°C（无冷凝）/30至80%RH电源100-240伏交流电（50/60Hz），4...

特征强调Basic性能的Basic模型最小水分含量显示0.01%，重量显示5mg使用自动去皮减少漂移两种类型的测量模式：自动和定时规格测量方法通过加热和干燥检测重量损失样品质量1-80g（可选重量采样格式）分辨率水分含量/固体含量：0.1%或0.01%（可选）0.01%的指示不保证精度。重量：0.005g测量范围0-100%（湿基，固含量）0-500%（干基）重复性（标准偏差）重量为5g或以上的样品，0.1%（使用标准样品和KettElectricLaboratory确定的测...

防冷剂千分尺MDC-PXIP65防护等级标准价格（不含税）：21,300日元测量范围（mm）：0~25*小显示量（mm）：0.001*有关产品的*库存状况和交货日期，请与贸易公司或我们的销售办事处联系。*商品图片仅用于说明目的。可能与实际产品有所不同。请务必查看产品详细信息的规格。恒压装置：棘轮止动装置产品型号293-240-30MDC-25PX系列测量范围（mm）：0～25*小显示量（mm）：0.001293-241-30MDC-50PX系列测量范围（mm）：25～50*小...

防冷却液千分尺MDC-125~300MXIP65防护等级标准价格（不含税）：42,000日元测量范围（mm）：100~125最小显示量（mm）：0.001*有关产品的最新库存状况和交货日期，请与贸易公司或我们的销售办事处联系。*商品图片仅用于说明目的。可能与实际产品有所不同。请务必查看产品详细信息的规格。恒压装置：棘轮止动装置带测量数据输出功能产品型号293-250-30MDC-125MX測定範囲(mm):100～125最小显示量（mm）：0.001293-251-30MDC...

TXRF310Fab系列全内反射X射线荧光光谱仪分析痕量从轻元素Na到重元素U的污染物元素采用转子式高功率X射线发生器和新设计的入射X射线单色器。过渡金属LLD10采用直接TXRF测量方法8原子/厘米2达到水平。在封闭X射线管测量时间的1/3内即可实现相同的精度，从而实现高通量。询价询问有关产品的问题=thumbnailOffset&&index总结长处规范事件描述TXRF310Fab1个靶标、3个光束系统这是一种方法，它使用三种类型的光谱晶体来提取被测元素的最佳单色X射线束...

TXRF3760系列全内反射X射线荧光光谱仪对晶圆表面的污染进行无损、非接触式和高灵敏度分析转子式高功率X射线发生器和新设计的入射X射线单色器过渡金属LLD10采用直接TXRF测量方法8原子/厘米2达到水平。在封闭X射线管测量时间的1/3内即可实现相同的精度，从而实现高通量。询价询问有关产品的问题=thumbnailOffset&&index总结长处规范事件TXRF3760概述1个靶标、3个光束系统这是一种方法，它使用三种类型的光谱晶体来提取被测元素的最佳单色X射线束，并将其...

WaferX310系列用于薄膜评估的X射线荧光光谱仪波长色散X射线荧光光谱仪（WD-XRF）可以无损、非接触式方式同时分析300mm和200mm晶圆上各种薄膜的厚度和成分。这是一种波长色散X射线荧光光谱仪（WD-XRF），可以无损、非接触地同时分析300mm和200mm晶圆上各种薄膜的厚度和成分。它与GEM300兼容，并支持300mmFab的在线规格。XYθZ驱动式样品台（方法）可准确分析各种金属膜，避免了衍射线的影响。使用4kW高功率X射线管可以测量痕量元素。此外，通过安装...

晶圆/磁盘分析仪3650用于薄膜评估的X射线荧光光谱仪对各种薄膜的厚度和成分进行同步、无损、非接触分析这是一种波长色散X射线荧光光谱仪（WD-XRF），可以以非破坏性、非接触的方式同时分析最大~200mm晶圆上各种薄膜的厚度和成分。XYθZ驱动式样品台（方法）可准确分析各种金属膜，避免了衍射线的影响。使用4kW高功率X射线管可对超轻元素进行高精度分析，例如BPSG薄膜的痕量元素测量和硼分析。它还与C-to-C传输机器人（可选）兼容。它配备了AutoCal（全自动日常检查和强度...

AZX400用于薄膜评估的X射线荧光光谱仪将Be~U中的所有元素（包括B、C、N和O）包含在一个单元中，这些元素是重要的半导体材料波长色散X射线荧光（WDX）光谱仪的**模型WDX具有高信噪比和高分辨率，使用可实现比能量色散X射线荧光（EDX）仪器更准确的分析。高功率X射线管和专用于超轻元素的光谱晶体可实现超轻元素测量，例如B、C、N和O，这是EDX无法实现的。此外，由于Si的影响，难以用EDX分析的Al超薄膜可以通过高分辨率的WDX清晰分离。=thumbnailOffset...

高精度CNC三坐标测量机STRATO系列初项高达1μm以内高精度下，实现高速、高加速度驱动的高速扫描。产品特点与优势STRATO-Apex系列是高精度CNC三坐标测量机，该系列通过优化本体结构、导轨构造等达到高刚性，使设备在拥有高精度的同时，更实现了高速、高加速度驱动。●STRATO-Apex系列检测各轴位置的标尺搭载了与LEGEX系列同等级别的高精度标尺（自社研发），具有很高的检测功能和超高精度控制功能，通过其他高速控制程序等技术实现高精度·高速度测量。●标配温度实时补偿功...