YAMABUN山文电气测厚仪-空气式测厚

YAMABUN山文电气测厚仪-空气式测厚

YAMABUN山文电气测厚仪-空气式测厚

1）TOF-4R05（经典标准款）

分辨率 0.5μm，量程 0.03–3mm，薄膜 / 薄片通用。

恒压探头（0.6N）：压力固定，不压软膜、不受人手感影响。

蓝宝石测头：耐磨、长期精度稳定、少维护。

自动测量、数据可存电脑，配雷达图调吹塑膜均匀性。

适用：锂电隔膜、光学膜、PVB、包装膜、橡胶片。

2）TOF-4R05 HUD（高精密微调款）

在 4R05 基础上增加微米级微调，适合超高精度管控。

读数更细、重复性更好，用于光学 / 新能源材料。

3）TOF-6R001（超精密款）

分辨率 0.01μm，半导体 / 精密电子薄膜专用。

适合超薄、高精度要求的电子材料、晶圆涂层、极薄胶膜。

4）TOF-M（金属板材专用）

钢板、铝板等金属薄片专用，量程更大、刚性更强。

自动送料、重复性好，适合汽车 / 轨道交通金属件。

二、离线非接触电容式（TOF-C 系列）

5）TOF-C2（主流电容款）

非接触测量：不损伤超薄软膜（PET、PVC、锂电隔膜）。

表面粗糙也能测，自动电位设定，操作简单。

适合：光学膜、太阳能封装膜、锂电隔膜等高附加值薄膜。

6）TOF-C（经济型电容款）

功能简化、价格更低，实验室 / 抽检常用。

三、离线光学 / 分光干涉式（TOF-S 系列）

7）TOF-S（透明膜 / 多层膜专用）

分光干涉原理，测 1–150μm 透明膜，无损。

可测多层膜（如 ITO+AR 膜），能解析层结构。

温漂极小、稳定性高，适合光学镀膜、AR/AF 膜、PI 膜。

分辨率 ±0.01μm，光学行业。

四、在线接触式测厚仪（TME/TSM/TSW 系列）

8）TME-RM（标准在线接触）

薄膜 / 卷材连续在线测厚，精度高、响应快。

接触式、稳定性好，适合中高速产线、常规薄膜。

9）TSM-RM（加强型在线接触）

结构更强、抗振更好，适合厚膜 / 高速 / 重载产线。

10）TSW-E（宽幅 / 泡沫专用）

宽幅、发泡材料、泡沫板专用，量程大、压头适配软质厚材。

五、在线激光非接触测厚（NSM/NME 系列）

11）NSM-RM（标准激光在线）

激光非接触，高速、无损伤，全幅扫描。

无需校准曲线、操作简单，PP/PS/ 多层膜适用。

12）NSM-RMD（高精度激光款）

精度更高、抗干扰强，锂电 / 光学膜高速产线常用。

13）NME-RM（经济型激光在线）

成本低、基础功能齐全，适合预算友好型在线改造。

六、YAMABUN 整机共同核心特点（通用卖点）

日本原装、微米级精度：分辨率最高 0.01μm，行业顶尖。

恒压 / 非接触双路线：软膜不压伤、硬膜测不准问题全覆盖。

高耐磨探头：蓝宝石 / 硬质合金，长期免校准、维护成本低。

强抗环境干扰：温漂小、抗振、防尘，车间长期稳定。

数据化 + 联网：自动记录、USB/RS485，可对接 MES，可追溯。

覆盖全流程：实验室离线 → 中试 → 量产在线，一站式方案。

行业适配广：锂电、光学、包装、汽车、半导体、新能源全覆盖。