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技术文章/ Technical Articles

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  • 2026

    7-23

    PAT-T系列自带风扇异常FAN保护、过热OTP保护,风扇故障会直接锁机停机;高温积尘会加速电容、功率器件老化,以下为标准化实操规范。一、安全操作前置硬性要求(检修/保养必遵守)整机断电,断开三相输入断路器,等待5~10分钟,内部大容量电容放电后再拆机,防止触电。佩戴防静电手套、绝缘工具,禁止裸手触碰PCB功率板、滤波电容引脚。清洁仅使用0.3~0.4MPa干燥压缩空气、防静电软毛刷;禁止水、酒精大量冲洗内部电路。拆机检修风扇后,必须装回全部外壳盖板再通电试机,避免电磁干扰与...

  • 2026

    7-22

    一、流通池污染带来的典型故障流通池内壁、光学窗口、电极附着样品沉淀物、有机物、盐垢,会直接出现:Zeta电位重复性变差、基线持续漂移、噪声变大、数据跳变;严重时电极信号异常、必须停机拆洗。批量样品连续测试场景下,污染会持续累积,逐步扩大故障概率。二、每次测试结束标准冲洗流程(每日必执行,核心预防手段)待测样品测试完毕,立即通入超纯水连续冲洗流通池3分钟,带出大部分悬浮颗粒与可溶性溶质。含有机物、高分子、乳液样品:纯水冲洗之后,使用少量乙醇水溶液低速循环2分钟,清除有机吸附层。...

  • 2026

    7-22

    一、开机预热与硬件基础避坑(多数系统误差源头)开机必须等待CCD制冷稳定,至少3分钟,制冷未达标直接测量,暗电流持续漂移,同一样品连续读数偏差明显。Y型光纤安装保持受力一致,接头平稳旋紧,禁止大力扭转光纤;每次拆装光纤后必须重做暗校正、参比校正。光纤弯折半径过小,光损耗不稳定,直接带来重复性误差。测量台面远离振动、风机直吹、阳光直射;环境温度波动大于±3℃,光路、光源输出出现漂移。光源充分预热15分钟再执行校正;光源光强未稳定就采集基线,整批次数据存在固定偏移。...

  • 2026

    7-22

    一、仪器开机与预热规范,消除光源漂移引发波动OPTM-A3依靠氘灯、卤素灯复合光源输出稳定光谱,光源未达到热平衡是初期数据浮动常见诱因。设备通电后保持持续预热,等待光源光强趋于平稳再开展正式测试。开机阶段检查光路窗口、物镜表面状态,确认无粉尘、指纹附着。测试环境尽量远离空调直吹、设备震动源,温度大幅度变化会造成光学元件轻微形变,改变光路焦点位置,引发同点位读数反复变化。每次重启设备、长时间停机后复测样品,优先使用标准试片进行验证,确认重复性达标再测量待测样品。二、样品预处理与...

  • 2026

    7-22

    一、整机光路信号导入:光纤前端耦合系统MCPD-9800依托光纤实现外部光学信号采集,待测样品产生的反射光、透射光或者发射光,通过石英光纤完成传输耦合。光纤可以灵活搭配显微镜、积分球、在线测量工装,不受样品外形与测试空间限制。光线经由光纤端口进入仪器内部,首先抵达狭缝组件。狭缝承担光束整形作用,限制入射光束宽度,规避杂散光大量涌入光路,同时约束光谱分辨率区间。狭缝尺寸会直接影响光通量与光谱分辨能力,弱光场景可适度平衡通光量,高精度光谱测试需要选用窄狭缝配置。二、平面场光栅分光...

  • 2026

    7-22

    薄膜厚度是半导体、光学镀膜、显示工艺中关键管控指标。传统检测手段各有短板,切片取样会破坏样品,接触式测量容易损伤功能膜层,很难满足图形化微区快速检测需求。OTSUKA大塚电子OPTM-A1显微分光膜厚仪依托分光干涉法,实现非接触式薄膜厚度检测。本文换一种逻辑视角,从信号产生、硬件实现、数据处理、现场使用条件、竞品横向对比、工程应用价值六个维度展开。1干涉信号如何产生:薄膜界面光学行为光线入射薄膜结构后,会在多个界面发生反射与透射,干涉现象正是多层反射光线相互叠加形成。入射宽波...

  • 2026

    7-21

    一、等离子体电离核心原理进样雾化过程样品液体经蠕动泵送入雾化器,在氩气气流作用下破碎成细小雾滴。雾滴进入雾室,大液滴被分流排出,细微气溶胶送入等离子体炬管。全程以高纯氩气作为载气、辅助气、冷却气。等离子体形成高频射频线圈释放交变电磁场,氩气中少量自由电子加速碰撞氩原子,持续电离产生大量电子、离子,形成6000K至10000K高温氩等离子体。三层氩气包裹等离子焰,隔绝空气避免氧化、降温。样品原子化与电离气溶胶进入高温等离子体,水分快速蒸发,溶质分解为单原子。原子持续吸收能量,外...

  • 2026

    7-21

    一、核心基础定律仪器定量依据朗伯-比尔定律。单色平行光穿过均匀透明待测溶液时,溶液内吸光物质会吸收特定波长光线。吸光度与物质浓度、光程长度成正比。公式简化:A=kbc。A代表吸光度,k为物质摩尔吸光系数,b是比色皿光程,c为待测物浓度。固定波长与比色皿后,k、b数值不变,吸光度只随浓度变化,依靠这个对应关系完成定量计算。二、整机光路构成双光源组件氘灯负责紫外波段,钨灯负责可见光波段。两种光源分别发射连续宽谱光线,仪器自动切换光源匹配检测波长。入射狭缝与准直镜光源发出发散光线,...

  • 2026

    7-21

    一、批量检测前整机与样品前置准备仪器硬件点检接通稳压电源,确认氦气/真空气路压力稳定,检查探测器制冷风扇正常运转。拉开48位样品托盘,吹扫托盘卡槽粉尘,擦拭托盘密封胶圈,无破损漏风。清理仪器光路前端窗口浮尘,避免批量检测数据持续偏低。确认X射线管、滤片组件无报错,提前完成能量校准。样品统一制备规范液体样品选用适配薄膜样品杯,水溶液配聚丙烯膜,有机溶剂用聚酯膜,液面高度保持一致,无渗漏;粉末样品装杯后轻震铺平,无凸起颗粒;固体样品平整贴合薄膜,尖锐边缘打磨光滑,防止划伤探测器窗...

  • 2026

    7-21

    一、样品台整套维保日常每次测后操作测试结束立刻清理样品碎屑、粉末、液体残留,硬质毛刷轻扫台面,粉尘用干燥氮气斜向吹扫。液体、腐蚀性样品渗漏后,无尘布蘸少量无水乙醇擦拭台面,风干再关闭样品仓。样品放置保持平整,尖锐边角、颗粒凸起禁止正对光路窗口,防止划伤膜片与内部探测器。每周基础检查清洁清理样品仓内壁、转台轨道缝隙积灰;检查仓门密封橡胶圈,出现硬化、掉渣、缝隙漏风及时更换。轨道移动异响、卡顿,断电后吹扫粉尘,仅使用设备配套专用硅基润滑脂微量涂抹导轨,禁止普通黄油。观察样品定位传...

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