SHIMADZU 岛津 EDX-7200 X 射线荧光光谱仪样品台、探测器维保要点

更新时间：2026-07-21

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一、样品台整套维保

测试结束立刻清理样品碎屑、粉末、液体残留，硬质毛刷轻扫台面，粉尘用干燥氮气斜向吹扫。

液体、腐蚀性样品渗漏后，无尘布蘸少量无水乙醇擦拭台面，风干再关闭样品仓。

样品放置保持平整，尖锐边角、颗粒凸起禁止正对光路窗口，防止划伤膜片与内部探测器。

清理样品仓内壁、转台轨道缝隙积灰；检查仓门密封橡胶圈，出现硬化、掉渣、缝隙漏风及时更换。

轨道移动异响、卡顿，断电后吹扫粉尘，仅使用设备配套专用硅基润滑脂微量涂抹导轨，禁止普通黄油。

观察样品定位传感器无遮挡，粉尘覆盖会导致点位识别偏移。

取下样品转台完整擦拭，清理转轴金属粉尘；检查限位卡扣松紧，松动会造成测量点位偏移。

真空型机型重点检查密封圈气密性，真空度下降优先排查仓门胶圈。

粉末样品长期使用后，吹扫光路前方准直器缝隙，避免扬尘沉积遮挡射线。

液体样品不加专用样品杯、不铺聚酯膜直接放置；粉末无压片直接测试，扬尘污染内部光路与探测器；大力撞击转台、导轨，造成传动位移；大量溶剂直接冲洗样品仓，渗入电路与真空腔体。

探测器前端氮化硅薄窗为易损件，严禁任何硬物触碰、挤压，轻微破损直接报废探测器。

全程防静电，开盖维护佩戴防静电手环，禁止裸手靠近探测器腔体。

设备运行中不打开样品仓，防止空气、粉尘、挥发性物质污染探测器窗口。

每日开机查看软件真空读数，真空度持续走低立刻停机，大概率窗口轻微渗漏或腔体进灰。

观察探测器电制冷风扇运转，风道堵塞积热会造成能量分辨率变差、计数不稳定，每周吹扫散热风口。

每批次样品结束做标准片测试，元素强度明显衰减，优先判定窗口积灰污染。

窗口表面浮尘只用干燥氮气轻柔斜吹，禁止棉签、布料直接擦拭薄窗。

表面附着黏性沉积物，联系售后处理，禁止自行用溶剂擦洗。

探测器腔体内部禁止私自拆解，内部光栅、芯片人为污染无法修复。

每月执行探测器能量校准，峰位偏移、半高宽超标及时清理光路窗口并复测。

季度核查制冷温度，温度波动过大清理散热器粉尘。

年度由工程师拆解吹扫腔体内部，更换老化密封垫片，检测薄窗完整性。

样品碎屑、粉末直对探测器窗口测试；高挥发、强腐蚀样品长时间测量；高温样品直接放入样品仓，热气流损伤制冷系统；断电后立刻开盖放空腔体，温差水汽凝结污染窗口。

整机保养前关闭高压 X 射线、断电冷却 20 分钟以上。

环境湿度控制 40% 至 60%，高湿会加速密封件老化、探测器窗口起雾。

所有清洁仅使用无水乙醇、干燥氮气、无尘软毛刷，禁用丙酮、强酸强碱。

建立维保记录，登记转台润滑、密封圈更换、探测器校准、真空度检查时间。